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非晶納米晶合金帶材疊片系數(shù)測試測厚儀

簡要描述:非晶納米晶合金帶材疊片系數(shù)測試測厚儀
非晶帶材厚度一般在20μm-30μm,疊片時厚度偏差的放大效應更明顯,導致疊片系數(shù)低,因此改善帶材厚度偏差是提高非晶帶材疊片系數(shù)的有效途徑。

  • 產(chǎn)品型號:FTT-01
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-20
  • 訪  問  量:1592

詳細介紹

非晶納米晶合金帶材疊片系數(shù)測試測厚儀 FTT-01

非晶帶材的質(zhì)量和應用效果主要有兩個關(guān)鍵指標,疊片系數(shù)和厚度。

疊片系數(shù)簡單地說就是變壓器疊片鐵芯的有效面積系數(shù),疊片系數(shù)越高,鐵芯的有效面積越大,使磁通密度減少,損耗降低。在制造過程中,硅鋼片搭片、錯片、毛刺、彎曲等缺陷會導致疊片系數(shù)降低,從而導致變壓器性能降低,嚴重的如過大的毛刺會使片間短路,鐵心的渦流損耗增加。

非晶帶材厚度一般在20μm-30μm,疊片時厚度偏差的放大效應更明顯,導致疊片系數(shù)低,因此改善帶材厚度偏差是提高非晶帶材疊片系數(shù)的有效途徑。另外,按照國家標準GB/T 19345-2003非晶納米晶軟磁合金帶材的規(guī)定,非晶帶材厚度偏差為同一爐帶材沿長度方向的厚度的±10%以內(nèi),在寬度方向的厚度偏差應在±2μm

非晶納米晶合金帶材疊片系數(shù)測試測厚儀

試樣準備

試樣應無折皺,明顯翹起等缺陷。

試樣的制取和數(shù)量根據(jù)測試要求確定。

實驗步驟

1.將準備好的試樣固定在測試臺上,點擊氣動夾持試樣按鈕,夾緊試樣。

2.操作觸摸屏,點擊實驗進入?yún)?shù)設(shè)置界面,設(shè)置測量時間,每個測試點間距,測試點數(shù)參數(shù)。

3.操作觸摸屏,點擊實驗按鈕,儀器自動根據(jù)設(shè)置的參數(shù)進行測量,并顯示終厚度和疊片系數(shù)的測試結(jié)果。

非晶納米晶合金帶材疊片系數(shù)測試測厚儀

以上為濟南西奧機電有限公司根據(jù)非晶帶材客戶相關(guān)資料進行整理和總結(jié),儀器可以按照客戶的不同要求進行定制,滿足客戶個性化的測試需求,有具體問題可以聯(lián)系我司。









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